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| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 能源,電子,汽車,電氣 |
NanoSystem成立于2003年，為半導體、顯示器和其他精密機械行業(yè)提供了用非接觸式表面測量方法進行測量的解決方案。 NanoSystem已經建立了非接觸式2D、3D測量和檢測系統的核心技術，并成為該市場解決方案的Leader。
高精度(Z軸分辨率達0.1nm)的非接觸式表面輪廓儀，采用白光掃描干涉技術，使客戶有能力看到、理解和糾正或保持產品質量。
NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等領域提供納米級別精度的測量.
包括：非接觸3D形貌測量，更廣的測量范圍（5mm可選），自動聚焦功能（可選），拼接和線路縱斷面等功能。
NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀技術參數
干涉物鏡：5物鏡可選(程控）
掃描范圍：0-180um（270um，5mm可選）
垂直分辨率：WSI：﹤0.5nm ，PSI ：﹤0.1nm
橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）
傾斜度：±6°
工作平臺：NV-P2020 200X200mm（程控）
NV-P4050 400X500mm（程控）
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